1. 晶圆处理能力
尺寸范围:原生支持 6 英寸和 8 英寸晶圆,部分二手设备通过改造可兼容 4–5 英寸。
传输方式:卡匣到卡匣全自动传输,配备机器人搬运、边缘检测和中心对准功能,支持非接触式晶圆放置。
2. 工艺能力
材料覆盖:支持氧化硅(SiO₂)、氮化硅(SiN)、多晶硅(Poly-Si)、硅化物及光刻胶灰化等工艺。
刻蚀模式:支持等离子体刻蚀(Plasma Etch)与反应离子刻蚀(RIE)模式可编程切换,通过上下电极独立射频实现精确控制。
线宽能力:典型刻蚀线宽 ≥ 0.5 微米,部分改造后可支持 GaN、GaAs 等材料的低损伤刻蚀。
3. 硬件配置
腔室结构:单腔室设计,平行板电极结构,电极间距可在 0.5 cm 至 8.5 cm 范围内精确调节。
射频系统:
上电极和下电极独立射频(RF)供电,外置射频源(如 AE PDX-1250)。
标准频率为 13.56 MHz,功率范围 20–650 W;部分型号支持 400 kHz 低频射频以优化离子能量控制。
气体系统:
标配 6 路 MFC,可扩展至 8 路,兼容 SF₆、CF₄、CHF₃、O₂、He 等多种工艺气体,流量范围覆盖 50 sccm 至 1 slm。
气体控制精度高,支持多步工艺气体切换。
真空系统:
涡轮分子泵(如 Seiko Seiki STP H200C)+ 干泵组合,极限真空度达 10⁻⁶ Torr 级别。
压力控制采用蝶阀(AC-2″ 控制器),支持动态压力调节。
温度控制:
陶瓷静电卡盘(ESC)集成背面氦气冷却,温度控制精度 ±0.1°C。
独立 TCU(温度控制单元)对上下电极进行双回路温控,支持 14–35°C 范围。